ElvaX Art, un analizador de fluorescencia de rayos X diseñado especialmente para analizar obras de arte.

ElvaX Art es un analizador nuevo de la línea de sistemas portátiles para espectrometría de fluorescencia de rayos X fabricados por Elvatech. Este analizador portátil, diseñado especialmente para analizar obras de arte, está equipado con una cámara CCD y utiliza el haz de rayos X estrechamente colimado. Esto permite llevar a cabo un análisis preciso de microáreas de los artefactos fijos, pinturas o artículos metálicos. Para funcionamiento del sistema ElvaX Art se requiere el software ElvaX y un ordenador de sobremesa u ordenador portátil. Esta combinación origina una herramienta poderosa, más universal que otros sistemas portátiles o de mesa. Las ventajas del análisis de fluorescencia de rayos X, en comparación con otros métodos, radican en su efecto no destructivo e instantáneo, rentabilidad, posibilidad de trabajar con amplia variedad de elementos.

Localidad

La cámara CCD y el haz de rayos X estrechamente colimado permiten asestarlo con precisión al área de ensayo necesaria.

Movilidad

El bloque analítico del sistema ElvaX Art puede ser colocado en una plataforma de dos ejes manual o motorizada, o sea en un brazo robótico. El peso pequeño del sistema, solo 2,5 kg, permite su transporte fácil hacia un lugar determinado.

Amplia gama de análisis

El sistema ElvaX Art facilita detectar y analizar elementos ligeros, desde Mg hasta S, así como gran variedad de otros elementos, desde Cl hasta Pu.

Ventajas

  • Cámara CCD y haz de rayos X estrechamente colimado facilitan la medición precisa de la superficie de la obra de arte, incluso si su tamaño no supera unos milímetros
  • Capacidad de detectar objetos cuya concentración es inferior a 10 ppm (partes por millón)
  • Pantalla 5” TFT LCD con zoom 10x

Espectrómetro ElvaX Art conviene perfectamente para analizar e identificar tales elementos como titanio, plomo, cromo, cobre, zinc, hierro y otros en los pigmentos minerales. Además, el analizador es capaz de detectar y determinar elementos en el vidrio, cerámica y obsidiana, así como analizar la composición de metales preciosos y no preciosos, objetos de piedra y otros materiales.

El método no destructivo de XRF permite preservar la integridad de los objetos y muestras.

Ámbitos de aplicación:

Características

Tubo de rayos X digital
Anode: W, Rh
Voltage: 4 – 40 kV (optional 50 kV)
Current: Tube Current 0 – 200 uA

X-Ray Detector
Type: Large area SDD
Resolution: < 140 eV & Mn Ka

Capacidades de medición
Detectable range – Cl (17) – Pu (94)
Optional light elements range – Mg (12) – S (16)
Detectable concentration below 10 PPM for most elements in a light Matrix

Generales
Beam size: 0.2 mm to 4 mm, manual
Dimensions: 174 x 143 x 172 mm
Weight: 2.5 kg
Power Supply: 100 – 240 VAC 50/60 Hz,
Max Power Consumption: 20 Watts
Video Screen: TFT LCD screen size is 5”, 10x magnification
Data Acquisition: time 1 – 100 sec.