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Découvrez le spectromètre XRF professionnel
ElvaX Pro est le tout dernier développement de la société Elvatech, un analyseur de fluorescence X de laboratoire de nouvelle génération. Ce spectromètre offre la plus haute précision d'analyse, une vitesse unique et des limites de détection très faibles pour une large gamme d'éléments allant de Na (11) à U (92), grâce à l'utilisation d'un nouveau tube à rayons X puissant avec une tension d'anode allant jusqu'à 60 kV et un courant allant jusqu'à 1000 µA, ainsi qu'un détecteur SDD à très grande surface de 40 mm². ElvaX Pro est un appareil de laboratoire professionnel multifonctions pour l'analyse qualitative et quantitative rapide de la composition de divers matériaux sous forme solide, liquide ou en poudre.
Précision
Grâce à son matériel performant et à ses algorithmes logiciels uniques, le ElvaX Pro assure une grande précision dans l'analyse élémentaire d'un large éventail de matériaux
Vitesse
Le Dynamically Adaptive Shaping (DAS) DPP, développé par Elvatech, associé au détecteur Fast SDD à très grande surface, fait de l'ElvaX Plus le spectromètre XRF le plus rapide du marché
Stabilité
La longue durée de fonctionnement sans recalibrage est assurée par le générateur de rayons X numérique digiX-60, la correction numérique automatique des dérives de température et de pression, et la correction dynamique du calibrage énergétique à chaque mesure
Avantages
- Le spectromètre XRF le plus rapide au monde (fréquence de mesure supérieure à 500 000 impulsions/s) combiné avec une haute précision de mesure
- Le tube à rayons X avec une tension allant jusqu'à 60 kV augmente considérablement la sensibilité pour les éléments allant de Pd (Z = 46) à Ba (Z = 56) et permet l'analyse des éléments rares en utilisant les séries K
- Un courant élevé du tube à rayons X jusqu'à 1000 µA améliore la précision de la détermination et les limites de détection pour les éléments légers (Na, Mg, Al, Si, P, S) et permet l'utilisation de pointeurs de petit diamètre (<1 mm) pour une analyse locale précise
- Changement automatique de pointeurs pour l'analyse locale des bijoux, des soudures, des cartes imprimées, etc. Taille de la zone d'analyse de 1 à 10 mm
- Le soufflage de gaz hélium dans la zone d'analyse augmente la sensibilité aux éléments légers (Na, Mg, Al, Si, P, S) de plusieurs fois
- Le système automatique de changement d'échantillons à 16 positions améliore l'efficacité du laboratoire
- La rotation des échantillons pendant l'analyse permet d'analyser des échantillons hétérogènes avec une grande précision
- La plus haute stabilité des calibrages, avec compensation des effets de température et de pression ambiante
- Caméra intégrée pour un positionnement précis des échantillons
ElvaX Pro est le spectromètre de fluorescence X haut de gamme de notre série ElvaX, conçu pour les utilisateurs les plus exigeants et les tâches analytiques les plus complexes
Amélioration de l'analyse des éléments légers
ElvaX Pro offre un niveau totalement nouveau de précision et de rapidité d'analyse avec des limites de détection faibles pour les éléments légers (Na, Mg, Al, Si, P, S) grâce à l'utilisation d'un nouveau tube à rayons X avec un courant allant jusqu'à 1000 µA et un soufflage d'hélium dans la zone d'analyse
Analyse locale
Une caméra intégrée à haute résolution combinée à un changeur automatique de pointeurs assure un positionnement facile et une grande précision pour l'analyse des bijoux, des soudures ou des petits objets. Le puissant tube à rayons X de 12 W et le détecteur Fast SDD à très grande surface de 40 mm² permettent de travailler avec des charges élevées même avec des pointeurs de moins de 1 mm
Éléments rares
Le tube à rayons X avec une tension de 60 kV permet d'analyser les éléments de terres rares La, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd par leurs séries K, ce qui était impossible auparavant
Changement automatique d'échantillons
Un changeur automatique d'échantillons à 16 positions et une haute vitesse d'analyse augmentent la productivité de votre laboratoire jusqu'à 5000 échantillons par jour avec un seul appareil
Spécifications
Émetteur de rayons X numérique digiX-50
Anode: Rh
Tension: 60 µA
Puissance: 12 W
Changeur de filtres à 8 positions
Changeur de pointeurs à 5 positions
Détecteur
Type: SDD à grande surface rapide
Surface: 40 mm2
Résolution: 135 eV sur Mn Kα, 80 eV sur Al Kα
Charge: > 500 000 impulsions/s
Électronique
DPP: DAS (Dynamically Adaptive Shaping), 80 MHz ADC
MCA: 4096 canaux
Général
Dimensions: 430 х 340 х 200 mm
Poids: 18 kg
Alimentation: 90 - 240 V, 50/60 Hz
Puissance: 60 W
Logiciel
OS: Windows 7/8/10
Analyse quantitative : Méthode des paramètres fondamentaux (FPA), y compris l'utilisation de la diffusion de Compton, calibrages empiriques (régressifs), analyse quantitative sans calibrage, vérification des matériaux par rapport aux normes, spécifications, et comparaison des spectres.