L'analyse par fluorescence X (XRF) est une méthode simple et rapide pour l'analyse quantitative des matériaux de silicate, des ciments, des céramiques et des minéraux naturels. Les principaux avantages de l'analyse XRF sont la simplicité de la préparation des échantillons, la grande précision et la rapidité des mesures.

Pour l'analyse des objets archéologiques, le spectromètre portatif ElvaX ProSpector est le meilleur choix, permettant des mesures dans toutes les conditions et sans préparation préalable des échantillons, tout en préservant l'intégrité de l'objet analysé.
L'objectif principal de l'analyse est de déterminer quantitativement la teneur en pourcentage des oxydes tels que CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, SO3, MgO, K2O, P2O5, TiO2, Mn2O3, ZnO, SrO etc. Les matériaux oxydes comprennent une large gamme d'objets, notamment : ciment, céramique, argile, objets archéologiques, matériaux de silicate, matériaux de construction, scories et cendres.
Spectromètres recommandés
ElvaX Plus
ElvaX Pro
ProSpector 2