Покриття

Вимірювання товщини покриттів — це найважливіше завдання для контролю ціни та якості продукції у різних галузях промисловості: машинобудівній, електронній, ювелірній та ін. Суттєвою вимогою до методики визначення товщини покриттів є неруйнованість аналізованого об’єкта. Одним із методів аналізу товщини покриттів є метод рентгенофлуоресцентного аналізу.

Портативні аналізатори ProSpector дають змогу вимірювати товщини одношарових однокомпонентних покриттів з будь-якого матеріалу на будь-який підкладці. Типові приклади покриттів для аналізу:
· Цинк на залізі/сталі;
· Хром на залізі/сталі;
· Нікель на залізі/сталі;
· Мідь на залізі/сталі;
· Золото на міді;
· Мідь на алюмінії;
· Молібден на титані;
· Нікель на міді;
· Будь-який інший метал на будь-якій підкладці.

Рекомендовані спектрометри